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*請(qǐng)注意，總諧波失真只有在版本7或更高版本中可用本篇應(yīng)用報(bào)告討論總諧波失真（THD）以及其與電化學(xué)阻抗譜（EIS）共同的特性。兩者實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)相同，但是數(shù)據(jù)分析方面不同。另外，我們回顧了線(xiàn)性和非線(xiàn)性信號(hào)響應(yīng)的差異。與EIS相比，THD通過(guò)快速傅里葉變化（FFT），也能夠分析非線(xiàn)性信號(hào)。我們將介紹非線(xiàn)性如何影響測(cè)試以及THD如何被應(yīng)用于檢查非線(xiàn)性行為。事實(shí)上，大多數(shù)測(cè)試體系如燃料電池等都是非線(xiàn)性體系，使得THD成為一種非常有用的工具。THD有助于暴露對(duì)系統(tǒng)和測(cè)試數(shù)據(jù)不利的副反應(yīng)產(chǎn)生...

此篇報(bào)告的目的本技術(shù)報(bào)告概述了如何用電化學(xué)工作站產(chǎn)生波形信號(hào)。此外，還討論了“頻率分辨率”一次，這一經(jīng)常在規(guī)格書(shū)常常提到的名詞。但是這一術(shù)語(yǔ)究竟描述的是什么？有什么意義。介紹進(jìn)行EIS試驗(yàn)時(shí)，向測(cè)試體系施加不同頻率下電位或電流正弦波信號(hào)。正弦波的公式如下：以Et作為在時(shí)間t的施加信號(hào)，幅度E0和角頻率ω。角頻率也可以寫(xiě)成ω=2π?f的頻率f。因?yàn)閷?duì)EIS的詳細(xì)介紹不在本應(yīng)用報(bào)告范圍內(nèi)，所以我們主要關(guān)注正弦波信號(hào)的生成方式。請(qǐng)參考Gamry網(wǎng)站上相關(guān)應(yīng)用報(bào)告電化學(xué)阻抗譜原理信號(hào)...

介紹本篇應(yīng)用報(bào)告涉及電化學(xué)阻抗譜（EIS），假設(shè)您已閱讀并理解應(yīng)用報(bào)告“電化學(xué)阻抗譜原理”中的內(nèi)容。本篇應(yīng)用報(bào)告的目的在于您不僅可以用Gamry電化學(xué)工作站測(cè)試電化學(xué)池中扁平電極的EIS，也可對(duì)沒(méi)有浸入液體介質(zhì)的彎曲電極進(jìn)行測(cè)試。實(shí)驗(yàn)在以下條件下測(cè)試了彎曲的機(jī)械加工的鋼材（樣品）：在兩電極體系中測(cè)試EIS，樣品作為工作電極和工作參比電極，石墨棒作為對(duì)電極和參比電極（見(jiàn)圖1）。為了提供用于測(cè)試的離子路徑，將潮濕的紙巾放在樣品和石墨棒之間。將紙巾纏繞在石墨棒上并用O圈固定在合適的...

電化學(xué)阻抗分析是電化學(xué)領(lǐng)域廣泛使用的實(shí)驗(yàn)方法，應(yīng)用于電化學(xué)傳感、電池和燃料電池的研究。這項(xiàng)技術(shù)的工作原理是，先在固定電壓下使電池極化，然后施加一個(gè)小的附加電壓（偶爾施加電流）來(lái)干擾系統(tǒng)。特殊元件以上所講的等效電路僅僅為基本電路，實(shí)際上，由于電極表面的彌散效應(yīng)的存在，所測(cè)得的雙電層電容不是一個(gè)常數(shù)，而是隨交流信號(hào)的頻率和幅值而發(fā)生改變的，一般來(lái)講，彌散效應(yīng)主要與電極表面電流分布有關(guān)，在腐蝕電位附近，電極表面上陰、陽(yáng)極電流并存，當(dāng)介質(zhì)中存在緩蝕劑時(shí)，電極表面就會(huì)為緩蝕劑層所覆蓋，...

本指南目的本章為應(yīng)用指南的第三部分，主要闡述能量轉(zhuǎn)換裝置相關(guān)的電化學(xué)技術(shù)。本章主要討論的是電化學(xué)阻抗譜基礎(chǔ)（EIS）知識(shí)并且將通過(guò)在單電化學(xué)電容和堆棧上的測(cè)試介紹Gamry的電化學(xué)阻抗技術(shù)。簡(jiǎn)介本系列指南的第一部分將討論電容器理論基礎(chǔ)并且闡述集中用于研究電化學(xué)電容的幾種技術(shù)手段。第二部分主要解釋Gamry電化學(xué)能量PWR800軟件在能量轉(zhuǎn)換裝置循環(huán)測(cè)試上的使用。闡述了單電池和堆棧在循環(huán)過(guò)程中不同設(shè)置參數(shù)的影響。實(shí)驗(yàn)本指南中描述的幾種電化學(xué)阻抗譜技術(shù)（EIS）可以在Gamry技...

準(zhǔn)確的EIS測(cè)量Gamry電化學(xué)儀器以準(zhǔn)確測(cè)量EIS著稱(chēng)。每臺(tái)電化學(xué)儀器都有準(zhǔn)確的阻抗精度圖（ACP）。ACP闡述了在給定阻抗和頻率條件下的阻抗精度。為什么制作ACP？?兩個(gè)主要原因：了解在典型條件下EIS測(cè)量?jī)x器的精度范圍和限制因素。了解儀器導(dǎo)線(xiàn)長(zhǎng)度和施加信號(hào)幅度對(duì)阻抗精度的影響制作ACP時(shí)，首先對(duì)開(kāi)路和短路條件下進(jìn)行阻抗測(cè)量。開(kāi)路測(cè)量描述是指施加擾動(dòng)振幅下整個(gè)電化學(xué)系統(tǒng)和儀器導(dǎo)線(xiàn)的電容測(cè)量低極限。超出測(cè)量極限的阻抗數(shù)據(jù)，不管數(shù)據(jù)多么漂亮，都應(yīng)該被拋棄。原因是測(cè)量的結(jié)果來(lái)自...

介紹我的所有阻抗圖譜看上去都一樣！這樣的抱怨非常普遍。“我是一個(gè)經(jīng)驗(yàn)豐富的高分子化學(xué)家。我嘗試用電化學(xué)阻抗法來(lái)預(yù)測(cè)涂層的耐腐蝕性能。我記錄許多阻抗數(shù)據(jù)。盡管我在涂層配方中做了改變，幾乎所有的圖譜都一樣。顯然，我不能用這些結(jié)果去評(píng)價(jià)我的涂層行為。這是怎么回事？”對(duì)于這樣的抱怨，有兩種常見(jiàn)的原因：涂層質(zhì)量很好，EIS數(shù)據(jù)重現(xiàn)性非常好你試圖做的測(cè)試超出了電化學(xué)工作站阻抗系統(tǒng)的能力范圍第二種原因可能性更大。實(shí)際你在測(cè)試儀器的性能，而不是涂層的性能。這篇應(yīng)用報(bào)告將會(huì)探討電化學(xué)工作站對(duì)涂...

引言電化學(xué)阻抗譜（EIS）是獲取電化學(xué)系統(tǒng)信息的一種強(qiáng)有力的測(cè)試方法。它常常被應(yīng)用在測(cè)試新型的能源轉(zhuǎn)換和存儲(chǔ)類(lèi)電化學(xué)器件（ECS），包括電池，燃料電池和超級(jí)電容器。EIS可以被用到新設(shè)備發(fā)展的各個(gè)階段，一直從半電解池反應(yīng)的機(jī)理和動(dòng)力學(xué)初始評(píng)估到電池包的質(zhì)量控制。ECS器件在高功率應(yīng)用（例如電動(dòng)汽車(chē)）中使用量的增加引導(dǎo)我們發(fā)展更多具有較低阻抗的設(shè)備。不幸的是，現(xiàn)代ECS器件的阻抗常常太低了，以至于實(shí)驗(yàn)室EIS系統(tǒng)無(wú)法輕易地或者準(zhǔn)確地測(cè)量到。大多數(shù)商業(yè)EIS系統(tǒng)在阻抗低于0.1Ω...